Naneos Partector TEM納米顆粒采樣器，Partector TEM粒子采樣器詳細(xì)介紹：

Naneos Partector TEM納米顆粒采樣器是簡單性與強(qiáng)大功能之間的結(jié)合：您可以將其用作簡單的調(diào)查工具，以快速識(shí)別工作場所中的納米顆粒來源。您也可以使用它直接將顆粒采樣到標(biāo)準(zhǔn)透射電子顯微鏡（TEM）網(wǎng)格中。當(dāng)涉及單顆粒分析時(shí)，TEM是強(qiáng)大的分析技術(shù)。如果您擁有諸如TEM / SEM顯微鏡之類的輔助工具以進(jìn)一步查看粒度分布和顆粒形態(tài)以及/或用于分析被顆粒化學(xué)成分的分析儀器，那么Partector TEM將發(fā)揮的作用。

Naneos Partector TEM納米顆粒采樣器可讓您使用一臺(tái)儀器全面評(píng)估工作場所安全。Partector TEM采樣器是可以在線確定樣品覆蓋率并在達(dá)到覆蓋率時(shí)停止采樣的納米顆粒采樣器。它是一種綜合測量，允許首行測量，然后僅在必要時(shí)進(jìn)行采樣。由于TEM沉積機(jī)制是由檢測到的濃度控制和監(jiān)視的，因此您再也不會(huì)有空的或超載的樣品。利用Google Earth Java工具，它可以顯示在哪里測量濃度。

Naneos Partector TEM納米顆粒采樣器特點(diǎn)：

LDSA濃度范圍：0-20,000 µm2 /cm3

1秒的高時(shí)間分辨率（根據(jù)要求更快）

粒徑范圍廣，從10 nm到10 µm

設(shè)備尺寸：142x78x29mm-可以放入典型的襯衫口袋

重量：430克

流量：0.45 lpm

在標(biāo)準(zhǔn)3.05mm TEM網(wǎng)格上靜電沉積顆粒

采樣效率：50nm時(shí)約為3％

6個(gè)可更換網(wǎng)格架

自動(dòng)確定采樣時(shí)間，當(dāng)網(wǎng)格具有覆蓋范圍時(shí)，設(shè)備停止采樣

內(nèi)部可充電鋰離子電池，運(yùn)行時(shí)間通常為10小時(shí)

數(shù)據(jù)存儲(chǔ)在µSD卡上（足夠用于多年數(shù)據(jù)存儲(chǔ)）

圖形顯示

高濃度警報(bào)，閾值可調(diào)

包括可在所有主要操作系統(tǒng)上運(yùn)行的Java數(shù)據(jù)分析工具

Naneos Partector TEM納米顆粒采樣器優(yōu)勢：

微型輕巧

易于使用的按鈕采樣

TEM網(wǎng)格可通過6個(gè)網(wǎng)格支架輕松在現(xiàn)場更換

自動(dòng)確定采樣時(shí)間-因?yàn)樗梢詼y量納米顆粒的濃度，所以它知道何時(shí)停止采樣。

在線顯示當(dāng)前樣本覆蓋率

Google Earth Java工具可顯示在何處測量濃度

Naneos Partector TEM納米顆粒采樣器應(yīng)用：

氣溶膠研究

過濾器測試

環(huán)境與氣候研究

環(huán)境監(jiān)控

室內(nèi)和工作場所空氣質(zhì)量測量

個(gè)人曝光

 

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