Naneos Partector TEM納米顆粒采樣器，Partector TEM粒子采樣器詳細介紹：

Naneos Partector TEM納米顆粒采樣器是簡單性與強大功能之間的結合：您可以將其用作簡單的調查工具，以快速識別工作場所中的納米顆粒來源。您也可以使用它直接將顆粒采樣到標準透射電子顯微鏡（TEM）網(wǎng)格中。當涉及單顆粒分析時，TEM是強大的分析技術。如果您擁有諸如TEM / SEM顯微鏡之類的輔助工具以進一步查看粒度分布和顆粒形態(tài)以及/或用于分析被顆?；瘜W成分的分析儀器，那么Partector TEM將發(fā)揮的作用。

Naneos Partector TEM納米顆粒采樣器可讓您使用一臺儀器全面評估工作場所安全。Partector TEM采樣器是可以在線確定樣品覆蓋率并在達到覆蓋率時停止采樣的納米顆粒采樣器。它是一種綜合測量，允許首行測量，然后僅在必要時進行采樣。由于TEM沉積機制是由檢測到的濃度控制和監(jiān)視的，因此您再也不會有空的或超載的樣品。利用Google Earth Java工具，它可以顯示在哪里測量濃度。

Naneos Partector TEM納米顆粒采樣器特點：

LDSA濃度范圍：0-20,000 µm2 /cm3

1秒的高時間分辨率（根據(jù)要求更快）

粒徑范圍廣，從10 nm到10 µm

設備尺寸：142x78x29mm-可以放入典型的襯衫口袋

重量：430克

流量：0.45 lpm

在標準3.05mm TEM網(wǎng)格上靜電沉積顆粒

采樣效率：50nm時約為3％

6個可更換網(wǎng)格架

自動確定采樣時間，當網(wǎng)格具有覆蓋范圍時，設備停止采樣

內部可充電鋰離子電池，運行時間通常為10小時

數(shù)據(jù)存儲在µSD卡上（足夠用于多年數(shù)據(jù)存儲）

圖形顯示

高濃度警報，閾值可調

包括可在所有主要操作系統(tǒng)上運行的Java數(shù)據(jù)分析工具

Naneos Partector TEM納米顆粒采樣器優(yōu)勢：

微型輕巧

易于使用的按鈕采樣

TEM網(wǎng)格可通過6個網(wǎng)格支架輕松在現(xiàn)場更換

自動確定采樣時間-因為它可以測量納米顆粒的濃度，所以它知道何時停止采樣。

在線顯示當前樣本覆蓋率

Google Earth Java工具可顯示在何處測量濃度

Naneos Partector TEM納米顆粒采樣器應用：

氣溶膠研究

過濾器測試

環(huán)境與氣候研究

環(huán)境監(jiān)控

室內和工作場所空氣質量測量

個人曝光

 

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